表面分析：SIMS Amazon.co.jp: 二次イオン質量分析法第2版 (表面分析技術選書) : 公益

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表面分析：SIMS Amazon.co.jp: 二次イオン質量分析法第2版 (表面分析技術選書) : 公益の詳細情報

Amazon.co.jp: 二次イオン質量分析法第2版 (表面分析技術選書) : 公益。表面からの分析手法および検出感度│事例紹介│分析評価事業│メルコ。ガラス上付着物のTOF-SIMS定性分析。二次イオン質量分析法の基礎と応用に関する専門書。- タイトル: 表面分析：SIMS- 著者: D. ブリッグス, M.P. シーア- 定価: 8500円- 出版社: アグネス承風社ご覧いただきありがとうございます。透明のブックカバーを付けて使用しておりました。そのまま付けて発送予定です。20年以上前に発行された本かつ、古本にご理解のほどお願いします。中身は美品だと思います。。表面分析の種類と特徴 | メルコセミコンダクタエンジニアリング株式。受験用参考書（東大）。中学受験参考書。浜学園　小5 算数　最高レベル特訓　全集。熊本城本　至文堂　侍屋敷古図集成　熊本　本　城。書道大字典（上）　伏見沖敬編　角川書店